賽默飛Quattro 環境掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Quattro環境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場發射槍（FEG），具有出色的分辨率和射束電流穩定性。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Quattro
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Prisma E 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產品中完整的解決方案。
產品屬性
- 賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產品中完整的解決方案。
SZX7 體視顯微鏡
儀器簡介
SZX7體視顯微鏡——解剖、雙目、三目，提供了最高達每毫米600對線的高分辨率圖像，因其高級無限校正光學元件而具有很高的色彩保真度，并以0.8倍到5.6倍提供了7：1的變焦比率。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：SZX7
- 產地：日本
- 價格：面議
MX63 半導體與平板顯示器檢測顯微鏡
儀器簡介
MX63半導體與平板顯示器檢測顯微鏡系統特別適合尺寸MAX 300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質量檢測。其采用的模塊化設計可讓您根據需要選擇組件，獲得根據應用定制的系統。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：MX63
- 產地：日本
- 價格：面議
GX53 倒置金相顯微鏡
儀器簡介
GX53倒置金相顯微鏡廣泛應用 于鋼鐵、汽車、電子及其其他制造行業。用于只需將樣品倒扣放置在載物臺上即可檢測拋光金屬和切片樣品。樣品底部無需平整處理，并且尺寸可以較厚、較大、或者較重。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：GX53
- 產地：日本
- 價格：面議
BX53M 金相顯微鏡
儀器簡介
BX53M系列采用了模塊化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。BX53M根據工業和材料學的不同應用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應用的顯微鏡。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：BX53M
- 產地：日本
- 價格：面議
OLS5000 3D測量激光顯微鏡
儀器簡介
OLS 5000作為奧林巴斯新一代3D測量激光顯微鏡的代表作，具有更加完善的功能和更為廣泛的應用前景。它能夠在不損傷樣品、不做導電處理的前提下，對大尺寸樣品實施非破壞性觀察。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：OLS 5000
- 產地：日本
- 價格：面議
DSX1000 數碼顯微鏡
儀器簡介
DSX1000 顯微鏡就可滿足各種觀察和分析需要，改善檢驗的工作流程。鏡頭數量增加至 15 個，涵蓋20-7,000X的放大倍率。用戶還可以利用該顯微鏡的六種觀察方法，對各種樣品進行觀察與測量。
產品屬性
- 品牌：奧林巴斯
- 型號：DSX1000
- 產地：日本
- 價格：面議
OPTM series 顯微分光膜厚儀
儀器簡介
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。
產品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：OPTM series
- 產品：日本
- 價格：面議
FE-5000橢圓偏振光譜儀
儀器簡介
在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應所有種類的薄膜。在傳統旋轉分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
產品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：FE-5000
- 產品：日本
- 價格：面議