熒光光譜儀
濱松 絕對量子效率測量系統 Quantaurus-QY
儀器簡介
Quantaurus-QY是一款緊湊而易用的儀器，用于測量光致發光材料的量子效率。它能勝任絕對量子效率的測量，而且無需傳統相關方法所必需的已知參考標準。不同形式的樣品，包括薄膜、固體、粉末和溶液等均能被分析。液氮能將液體樣品冷卻到-196攝氏度（77 K）。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：Quantaurus-QY
- 產地：日本
- 價格：面議
絕對量子效率測量系統
儀器簡介
絕對量子效率測量系統采用了光致發光法（photoluminescence）來快速而準確地測定絕對量子效率。該系統裝置包括一個激發電源、一個單色儀、一個氮氣流積分球和一個同步探測整個譜域的CCD光譜儀。專用軟件易于操作。兩種樣品夾持器能用于薄膜、粉末，比色皿能用于液體樣品。這使得C9920-02系統能用于多種領域，包括工業、生物和學術研究等。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松 緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀
儀器簡介
緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132-11是專門為測量近紅外波段（580—1400 nm）光致發光譜（PL Spectrum）和光致發光壽命（PL Life）而設計的。主體單元也包括了一個YAG激光器。 PV材料的參數同轉換效率和開路電壓有著密切關系。因此這些參數在材料開發和質量控制上都是非常重要的。光致發光壽命測量尤其重要，因為它能表征用光致發光譜不能分辨的轉換效率間的差異。
產品屬性
- 品牌：濱松（HAMAMATSU）
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松 絕對量子效率測量系統Quantaurus-QY Plus
儀器簡介
Quantaurus-QY Plus 用于評價發光材料性能，測 試光致發光絕對量子產率的測試儀器。
其內部模塊化的探測器組件可根據用戶需要任意配 置，覆蓋紫外-近紅外的范圍，具有高靈敏度的背照 式CCD探測器，從而有效解決上轉換熒光量子產率 的難以測試的問題。
其內部模塊化的探測器組件可根據用戶需要任意配 置，覆蓋紫外-近紅外的范圍，具有高靈敏度的背照 式CCD探測器，從而有效解決上轉換熒光量子產率 的難以測試的問題。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：Quantaurus-QY Plus
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松 緊湊型熒光壽命測量儀Quantaurus-Tau
儀器簡介
緊湊單盒型熒光壽命測量系統用于操作簡單而高精度地測量熒光壽命和光致發光譜。
Quantaurus-Tau系統是一款緊湊型系統，用于快速而簡潔地在單光子計數靈敏度下測量光致發光材料從亞納秒到毫秒范圍內的熒光壽命。不同形式的樣品材料，包括薄膜、固體、粉末和溶液等均能被分析。液體樣品可以被液氮冷卻至-196攝氏度（-77K）。
操作非常簡單。只需將樣品放置到樣品室，然后在測量軟件上輸入幾個測量條件參數就可測量熒光壽命和光致發光（PL）譜。典型測量只需一分鐘即可獲得測量結果。測量軟件具有多種測量和分析功能，包括多組分分析和多樣品數據對比等。
Quantaurus-Tau系統是一款緊湊型系統，用于快速而簡潔地在單光子計數靈敏度下測量光致發光材料從亞納秒到毫秒范圍內的熒光壽命。不同形式的樣品材料，包括薄膜、固體、粉末和溶液等均能被分析。液體樣品可以被液氮冷卻至-196攝氏度（-77K）。
操作非常簡單。只需將樣品放置到樣品室，然后在測量軟件上輸入幾個測量條件參數就可測量熒光壽命和光致發光（PL）譜。典型測量只需一分鐘即可獲得測量結果。測量軟件具有多種測量和分析功能，包括多組分分析和多樣品數據對比等。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：Quantaurus-Tau
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松 皮秒熒光壽命測量系統
儀器簡介
采用二維光子計數法來測量多光譜熒光壽命的高靈敏度和高時間分辨率（5 ps）熒光壽命測量系統。
濱松皮秒熒光壽命測量系統是為滿足研究這類材料的研究者們的需求而開發的。具有皮秒時間響應的光學瞬態記錄儀“條紋眼（streak scope）”的應用，使得超快時間分辨型分光光度法成為現實。條紋相機技術的應用是探測靈敏度達到光子計數水平。對于同步波長和時間測量，可將光譜儀添加到系統中。波長和時間設置等測量參數可以由電腦控制以簡化實驗室操作。
濱松皮秒熒光壽命測量系統是為滿足研究這類材料的研究者們的需求而開發的。具有皮秒時間響應的光學瞬態記錄儀“條紋眼（streak scope）”的應用，使得超快時間分辨型分光光度法成為現實。條紋相機技術的應用是探測靈敏度達到光子計數水平。對于同步波長和時間測量，可將光譜儀添加到系統中。波長和時間設置等測量參數可以由電腦控制以簡化實驗室操作。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松近紅外熒光壽命測量系統
儀器簡介
近紅外熒光壽命測量系統具有亞納秒到皮秒的時間分辨率的近紅外（650—1700 nm）熒光壽命測量系統。
近紅外熒光壽命測量系統型能在傳統探測器困難的近紅外波段實現亞納秒的時間分辨率的熒光壽命測量。由于標準結構可以測量熒光譜，光譜被校正后就可能進行熒光壽命的測量。
近紅外熒光壽命測量系統型能在傳統探測器困難的近紅外波段實現亞納秒的時間分辨率的熒光壽命測量。由于標準結構可以測量熒光譜，光譜被校正后就可能進行熒光壽命的測量。
產品屬性
- 品牌：濱松（HAMAMATSU）
- 產地：日本
- 價格：面議