橢圓偏振光譜儀
OPTM series 顯微分光膜厚儀
儀器簡介
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。
產品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：OPTM series
- 產品：日本
- 價格：面議
FE-5000橢圓偏振光譜儀
儀器簡介
在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應所有種類的薄膜。在傳統旋轉分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
產品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：FE-5000
- 產品：日本
- 價格：面議
SE-Mapping 光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業前沿**技術，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現薄膜全基片膜厚以及光學參數自定義繪制化測量表征分析。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-Mapping
- 產品：中國
- 價格：面議
ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀
儀器簡介
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業的創新技術，具備：1.全穆勒矩陣測量技術，2.雙旋轉補償器同步控制技術，3.超級消色差補償器設計技術，4.納米光柵表征測量技術等技術。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：ME-L
- 產品：中國
- 價格：面議
SE-VE光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VE
- 產品：中國
- 價格：面議
SE-VM光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VM
- 產品：中國
- 價格：面議