掃描電子顯微鏡(SEM)/(EDS)）
賽默飛Phenom Pure 高性價比臺式掃描電鏡
儀器簡介
Phenom Pure是一款使用高亮度CeB6燈絲的高性價比臺式掃描電鏡。觀察亞微米尺度樣品的微觀結構，放大倍數要求在30000倍以下，您可以選擇Phenom Pure,他具有飛納系列全自動操作、15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點，適用于傳統大電鏡待測樣品的快速篩選，也適用于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Phenom Pure
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Phenom Pharos飛納臺式場發射掃描電鏡
儀器簡介
秉承飛納臺式電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看絕緣體、完全防震、性能穩定的特點，經過精心的設計，臺式掃描電鏡領軍制造商荷蘭 Phenom-World 公司推出了臺式場發射掃描電鏡 Phenom Pharos，將臺式電鏡的分辨率提升至優于 2.2nm。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Phenom Pharos
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Verios XHR 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Verios 是XHR（極高分辨率）SEM 系列的第二代產品。在尖端半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kV 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Verios XHR
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Apreo 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Apreo 革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Apreo
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Quattro 環境掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Quattro環境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場發射槍（FEG），具有出色的分辨率和射束電流穩定性。
產品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Quattro
- 價格：面議
- 產地：美國
賽默飛Prisma E 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產品中完整的解決方案。
產品屬性
- 賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術相結合，可提供同類產品中完整的解決方案。
CSPM6000光學-原子力顯微鏡一體機產品方案
儀器簡介
①*原子力顯微鏡(AFM)/摩擦力/橫向力顯微鏡（LFM）：橫向 0.2nm,垂直 0.03nm，包括接觸、輕敲、相移成像等多種工作模式，可實現力－距離曲線 、振幅－距離曲線、相位－距離曲線、振幅－頻率曲線、相位－頻率曲線等測量功能；摩擦力顯微鏡以及恒載荷、恒高工作模式，以及摩擦力回路曲線、摩擦力－載荷曲線等測量功能；
②*可擴展納米加工（含圖形刻蝕、壓痕、矢量掃描等模式）、磁力/靜電力、液相、導電原子力、掃描探針聲學/壓電力顯微鏡功能；
③*探頭光路偏平設計，可擴展光學和原子力顯微鏡同步成像功能。
②*可擴展納米加工（含圖形刻蝕、壓痕、矢量掃描等模式）、磁力/靜電力、液相、導電原子力、掃描探針聲學/壓電力顯微鏡功能；
③*探頭光路偏平設計，可擴展光學和原子力顯微鏡同步成像功能。
產品屬性
- 力檢測靈敏度：≤5pN
- 掃描角度：0～360°
- 掃描頻率：0.1～100Hz