SE-Mapping 光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業前沿**技術，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現薄膜全基片膜厚以及光學參數自定義繪制化測量表征分析。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-Mapping
- 產品：中國
- 價格：面議
ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀
儀器簡介
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業的創新技術，具備：1.全穆勒矩陣測量技術，2.雙旋轉補償器同步控制技術，3.超級消色差補償器設計技術，4.納米光柵表征測量技術等技術。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：ME-L
- 產品：中國
- 價格：面議
SE-VE光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VE
- 產品：中國
- 價格：面議
SE-VM光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。
產品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VM
- 產品：中國
- 價格：面議
布魯克PI 95透射電鏡專用原位納米力學系統
儀器簡介
布魯克PI 95是TEM專用的多用途、高靈敏度熱學、電學和力學的測試系統，在TEM上檢測時，直接觀察檢測過程，使用側面進樣支架，不僅可以實現納米尺度材料的成像觀察，還可以同時進行加熱和通電測試，并同步得到材料的力學數據，通過視頻接口可以將材料的力學數據（載荷位移曲線）與相應TEM視頻之間實現時間同步。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：PI 95
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克PI 88 掃描電鏡原位納米力學測試系統
儀器簡介
PI 88安裝于掃描電鏡中，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮測試；可以借助掃描電鏡的的高分辨率，觀測并記錄整個材料測試過程，觀測材料在力下發生的動態變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：PI 88
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克NanoForce 納米機械性能測試系統
儀器簡介
布魯克NanoForce? 納米機械性能測試系統提供最新的納米機械性能表征技術，非凡的納米機械性能測量精度和原子力顯微鏡成像，為納米材料研究提供有力的支持。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：NanoForce
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克TI 980 TriboIndenter高精度納米力學測試系統
儀器簡介
布魯克的海思創TI 980 Tribondenter同時具有最高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。基于海思創幾十年的技術創新，它為納米力學表征帶來了更高水平的性能、功能和易用性。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：TI 980
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克TI 950 TriboIndenter高精度納米力學測試系統
儀器簡介
TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺用于多種納米力學和納米摩擦學表征的自動化、高通量測試設備。海思創TI 950納米壓痕儀集成了強大的Preformech? I先進控制模塊，顯著提高了納米力學測試反饋控制的準確度，提供了空前的低噪音水平。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：TI 950
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克TI Premier 高精度納米力學測試系統
儀器簡介
TI Premier 系列產品是一款依托于緊湊型實驗平臺，實現定量化及高精度納米力學表征的測試系統。基于Hysitron成熟的技術，能夠為您納米力學及摩擦磨損檢測實驗提供整體解決方案。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：TI Premier
- 產地：德國
- 價格：面議