原子力顯微鏡
布魯克MultiMode 8多功能掃描探針顯微鏡
儀器簡介
布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡系統卓越的性能源于其緊湊堅固的機械設計與先進的低噪音SPM控制電路。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：MultiMode 8
- 產地：德國
- 價格：面議
WITec alpha300 A 原子力顯微鏡
儀器簡介
WITec 原子力顯微鏡集成了科研級光學顯微鏡，提供高級光學觀測、簡便的懸臂梁準直和高分辨樣品研究。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
產品屬性
- 品牌：WITec
- 型號：alpha300 A
- 產地：德國
- 價格：面議
布魯克Dimension FastScan原子力顯微鏡
儀器簡介
Dimension FastScan
世界上掃描速度快的原子力顯微鏡
掃描速度的全新詮釋，擁有高的掃描分辨率，優異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，較大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利Dimension快速掃描系統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
世界上掃描速度快的原子力顯微鏡
掃描速度的全新詮釋，擁有高的掃描分辨率，優異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，較大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利Dimension快速掃描系統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
產品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：Dimension FastScan
- 產地：美國
- 價格：250萬-300萬