濱松 緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀
儀器簡介
緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132-11是專門為測量近紅外波段（580—1400 nm）光致發光譜（PL Spectrum）和光致發光壽命（PL Life）而設計的。主體單元也包括了一個YAG激光器。 PV材料的參數同轉換效率和開路電壓有著密切關系。因此這些參數在材料開發和質量控制上都是非常重要的。光致發光壽命測量尤其重要，因為它能表征用光致發光譜不能分辨的轉換效率間的差異。
產品屬性
- 品牌：濱松（HAMAMATSU）
- 產地：日本
- 價格：面議
濱松 絕對量子效率測量系統Quantaurus-QY Plus
儀器簡介
Quantaurus-QY Plus 用于評價發光材料性能，測 試光致發光絕對量子產率的測試儀器。
其內部模塊化的探測器組件可根據用戶需要任意配 置，覆蓋紫外-近紅外的范圍，具有高靈敏度的背照 式CCD探測器，從而有效解決上轉換熒光量子產率 的難以測試的問題。
其內部模塊化的探測器組件可根據用戶需要任意配 置，覆蓋紫外-近紅外的范圍，具有高靈敏度的背照 式CCD探測器，從而有效解決上轉換熒光量子產率 的難以測試的問題。
產品屬性
- 品牌：濱松(HAMAMATSU)
- 型號：Quantaurus-QY Plus
- 產地：日本
- 價格：面議
ANASYS AFM-IR原子力紅外聯用系統nano IR2
儀器簡介
美國 ANASYS 儀器公司是一家富有創造力的分析儀器制造商，致力于設計突破性的領先產品，曾榮獲 2010年度美國 R&D100 大獎。nanoIR 系統為該公司推出的擁有全球領先AFM-IR 技術的系列產品，使得研究人員能夠同時獲得清晰的AFM 圖像以及精確的紅外光譜，是一個前所未有的強大檢測平臺。這項實驗室解決方案集成了納米紅外光譜和原子力顯微鏡的核心技術，使獲得的紅外光譜在空間分辨率上大大超越光學衍射極限，使分析樣品化學組分的橫向分辨率達到的了空前的 100nm 以下。
產品屬性
- 品牌：ANASYS
- 型號：nano IR2
- 產地：美國
- 價格：面議
掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡
儀器簡介
安捷倫5500ILM AFM配有專用接口平臺，可方便地將高精度AFM成像部件直接與各類倒置顯微鏡聯用，從而實現多種顯微手段同時成像，既可以得到光學的明場像、暗場像、熒光圖或激光共聚焦圖，又可以輕松獲得原子力圖像；對用一個樣品的同一個位置同時原位得到高襯度的光學圖和高分辨的AFM圖，這是生命科學領域用戶最心儀的顯微解決方案。5500ILM AFM還具有很強的兼容性，可與各個廠商的倒置顯微鏡和激光共聚焦聯用，也可支持FRET，暗場和明場成像多種光學附件功能。
產品屬性
- 品牌：安捷倫
- 型號：5500ILM
- 產地：美國
- 價格：面議
掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡（5600LS）
儀器簡介
無論樣品的大小如何，Agilent 5600LS 大鏡臺 AFM 都能夠交付高分辨率的結果。 多功能 5600LS 是全球唯一一款商用 AFM，結合使用 AFM 和 STM 掃描儀可支持大樣品（在空氣中）和小樣品（在溫度控制下,空氣中或液體中）的成像。
5600LS 采用可完全尋址的 200 毫米 x 200 毫米鏡臺和全新的低噪聲設計。 真空卡盤可輕松置入直徑達 8 毫米，高 30 毫米的樣品。 通過重新定位，鏡臺可容納 300 毫米的晶片。 5600LS 是研究人員的理想工具，可用于半導體、材料科學、生命科學研究等納米技術應用。
5600LS 采用可完全尋址的 200 毫米 x 200 毫米鏡臺和全新的低噪聲設計。 真空卡盤可輕松置入直徑達 8 毫米，高 30 毫米的樣品。 通過重新定位，鏡臺可容納 300 毫米的晶片。 5600LS 是研究人員的理想工具，可用于半導體、材料科學、生命科學研究等納米技術應用。
產品屬性
- 品牌：安捷倫
- 型號： 5600LS
- 產地：美國
- 價格：面議
WITec alpha300 A 原子力顯微鏡
儀器簡介
WITec 原子力顯微鏡集成了科研級光學顯微鏡，提供高級光學觀測、簡便的懸臂梁準直和高分辨樣品研究。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
WITec alpha300 A原子力顯微鏡系統具有獨特的模塊化設計和操作簡單等特點，已成為材料研究，生命科學和納米技術等領域的重要表征手段。支持所有標注的AFM模式，同時具有優越的兼容性和擴展性，可升級為共聚焦光學顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
WITec alpha300 A原子力顯微鏡系統具有獨特的模塊化設計和操作簡單等特點，已成為材料研究，生命科學和納米技術等領域的重要表征手段。支持所有標注的AFM模式，同時具有優越的兼容性和擴展性，可升級為共聚焦光學顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡。
產品屬性
- 品牌：WITec
- 型號：alpha300 A
- 產地：德國
- 價格：面議
WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
儀器簡介
alpha 300S一款操作簡易的掃描近場光學顯微鏡（SNOM），采用獨特設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統也具備優越的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
產品屬性
- 品牌：WITec
- 型號：alpha 300S
- 產地：德國
- 價格：面議
韓國s-connect快速掃描紫外可見分光光度計
儀器簡介
1. 各種應用分析
Alphalook是一種專業的分析設備, 用于化學, 生命科學, 環境, 制藥,
食品等各領域的應用分析研究。
2. 增強檢查的可靠性
準確度高, 在狹窄的空間內亦可完成快速, 可靠的測量和分析。
3. 直觀的用戶界面
可選擇使用用戶界面(PC/平板電腦), PC和平板電腦之間可實現數據兼容,
便于管理和共享測量數據。
4. 提高軟件性能
可使用測量光譜的簡易標準曲線, 及通過用戶想使用的畫面來創建數據表。
Alphalook是一種專業的分析設備, 用于化學, 生命科學, 環境, 制藥,
食品等各領域的應用分析研究。
2. 增強檢查的可靠性
準確度高, 在狹窄的空間內亦可完成快速, 可靠的測量和分析。
3. 直觀的用戶界面
可選擇使用用戶界面(PC/平板電腦), PC和平板電腦之間可實現數據兼容,
便于管理和共享測量數據。
4. 提高軟件性能
可使用測量光譜的簡易標準曲線, 及通過用戶想使用的畫面來創建數據表。
產品屬性
- 品牌：s-connect
- 型號：UV/VIS PDA
- 產地：韓國
- 價格：面議
WITec alpha 300S掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
儀器簡介
WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡，在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。
該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。
產品屬性
- 品牌：WITec
- 型號： alpha 300S
- 產地：德國
- 價格：面議
WITec alpha300 A 原子力顯微鏡
儀器簡介
WITec 原子力顯微鏡集成了科研級光學顯微鏡，提供高級光學觀測、簡便的懸臂梁準直和高分辨樣品研究。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
通過不同照明與探測技術的光學觀測（例如明場，暗場，偏振，熒光等），用戶可以輕易地選定感興趣的區域來進行 AFM 測試。通過簡單地旋轉物鏡轉輪，用戶可以在傳統顯微鏡與 AFM 模式間快速切換。
WITec 的 AFM 物鏡可直接觀測樣品與懸臂梁針尖， 實現直觀的精準探針定位。alpha300A 系統配備極度線性且精確的電容反饋控制掃描臺 (TrueScan? 技術)，實現整個掃描范圍上超高的精度控制。
產品屬性
- 品牌：WITec
- 型號：alpha300 A
- 產地：德國
- 價格：面議