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ANASYS AFM-IR原子力紅外聯用系統nano IR2

美國 ANASYS 儀器公司是一家富有創造力的分析儀器制造商,致力于設計突破性的領先產品,曾榮獲 2010年度美國 R&D100 大獎。nanoIR?系統為該公司推出的擁有全球領先AFM-IR?技術的系列產品,使得研究人員能夠同時獲得清晰的AFM?圖像以及精確的紅外光譜,是一個前所未有的強大檢測平臺。這項實驗室解決方案集成了納米紅外光譜和原子力顯微鏡的核心技術,使獲得的紅外光譜在空間分辨率上大大超越光學衍射極限,使分析樣品化學組分的橫向分辨率達到的了空前的?100nm?以下。

除了可以揭示化學組成,nanoIR系統還可以對試樣的局部形貌,機械性能,熱學性能進行高分辨率表征。該系統潛在的應用范圍橫跨聚合物科學,材料科學,生命科學以及對結構和性能關系深入研究的相關領域。

nanoIR2相比納米多功能紅外光譜系統一代的優勢為:脈沖可調激光光束從樣品上方激發,從而對測試樣品的形貌與厚度的要求大大降低。而且它擁有先進的納米共振加強紅外光譜(REINS)技術,提高了探針針尖在垂直方向的靈敏度,這使得它成為厚度在20nm以下薄膜表征的利器。

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產品特點

  • 突破AFM-IR的衍射極限
    nanoIR系統擁有領先的AFM-IR技術,兼具了紅外和原子力顯微鏡兩項技術的優勢,使分析樣品化學組分的橫向分辨率達到的了空前的100nm以下。無論你是要加快先進材料的研發速度還是要在納米尺度下研究細胞和組織的化學組分,nanoIR總能提供你所需要的納米級化學分析。

  • 豐富、便于識別的紅外光譜信息
    NanoIR系統可以提供全面的中紅外光譜信息供研究者使用。第二代紅外光源的波數從3600到1200連續可調。該范圍覆蓋了幾乎所有的中紅外,可提供包括CH、NH和CO鍵以及羰基和酰胺基在內的大量基團信息。采用nanoIR系統與傳統的紅外光譜儀得到的高分子光譜信息具有非常好的一致性且很容易輸出到第三方數據庫(e.g., Bio-Rad’s KnowItAll?),從而快速分析樣品,確認化學組成。

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  • 為高效獲取結果而設計制造
    NanoIR集成了多項創新技術。它的誕生便是為了在一個便捷而可靠的實驗平臺上提供尖端的檢測技術。
    ?基于紅外吸光度的AFM-IR紅外光譜便于被識別和在數據庫中檢索
    ?光譜采集時間小于1分鐘
    ?光學校準由電腦控制,信號可自動優化。
    ?成熟的AFM技術,流水線式的操作
    ?增加了樣品光學觀測和自動定位樣品
    ?來自業界領先的技術人員的高水平用戶支持

  • 完整而強大的AFM
    NanoIR兼備了很多有力而高效的AFM技術。除了空前的納米尺度的化學分析,AFM的成像模式如接觸、 輕敲和耗散對比,在每臺nanoIR上都是標準配置。其它可附加的設置包括納米熱分析(nanoTA),洛倫茲接觸共振(LCR)和導電原子力顯微術(CAFM)。

  • 全面的集成化系統
    nanoIR系統是全面集成了現有技術水平條件下的可調紅外激光源。紅外光束的調諧,聚焦和校準都是由nanoIR軟件智能控制的。

nanoIR的應用領域
NanoIR系統能夠被用于廣泛的領域。這項技術非常適合于有機材料,包括但不僅限于多層聚合薄膜,聚合物共混物,生物樣品和單粒子分析。

復合材料的界面分析

nanoIR2 measurements on a carbon fiber-epoxy composite revealing variations in chemical composition across the fiber/epoxy interface. This measurement was performed on a polished bulk sample.

碳纖維-環氧樹脂復合材料的nanoIR2測量揭示了纖維/環氧樹脂界面化學組分的多樣性

半導體器件的化學分析

nanoIR2 measurements on layers in a semiconductor device. The analysis reveals variations in chemical composition not measurable by conventional IR microscopy.

半導體器件各層的nanoIR2測量。測試結果揭示了化學組分的多樣性,傳統的紅外光譜無法進行這種測量

金屬表面的納米尺寸有機污染物分析

Organic Nanocontaminant

共振增強模式測試磁盤上的納米級有機污染物的紅外光譜。污染物顆粒的尺寸約為100nm×100nm×28nm


顯微切片碳粉顆粒分析

Microtomed Toner Particle

?調色劑顆粒是一種復雜的多組分混合物,nanoIR2可以在納米級分辨率下對這些組分進行鑒定。


礦物中碳氫化合物的分析

Hydrocarbons in Minerals

AFM形貌圖(左圖)和紅外吸收圖(右圖),通過探測CH鍵的吸收確定碳氫化合物的分布。


高分子聚合物超薄薄膜分析

The resonance enhanced mode enables high quality measurements on very thin films. A 20 nm film on PMMA taken by the nanoIR2.?

?共振增強模式能夠對非常薄的薄膜進行高質量的測量。上圖為20nmPMMA薄膜的nanoIR2測量結果。

多功能原子力顯微鏡

Anasys產品家族的每一件產品都支持多種常用的原子力顯微鏡成像模式,包括輕敲,接觸,力曲線、側力、力耗散對比及?EFM, MFM, CAFM等。

圖1輕巧模式下,獲得的包覆在硅上的聚苯乙烯膜的表面形貌圖;圖2為2×4μm 掃描尺寸下的形貌和耗散圖像;圖3磁力顯微鏡圖;圖4聚合物納米復合材料的輕敲相位圖

技術參數

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納米紅外光譜二代(nanoIR2)

共振增強納米紅外光譜二代(nanoIR2

激光可調范圍

900~2000cm-12250~3600cm-1

1200~1800cm-1

紅外光源線寬

平均4cm-1?

1cm-1?FWHM

最小樣品厚度

>50nm

納米機械性能成像

可以,通過接觸共振模式

不可以

IR吸收成像

可以,

不可以

單層膜測量

不可以

可以

入射光模式

紅外光從樣品上方入射(nanoIR2)

測量技術

光熱誘導共振技術(PTIR

檢測量

紅外光吸收

XY方向掃描范圍

80x80um

Z方向掃描范圍

>7um

空間分辨率

20~100nm

點光譜測量時間

1分鐘

標準成像模式

接觸模式輕敲模式力曲線模式力調制模式

可選成像模式

納米熱分析(nanoTA);洛倫茲接觸共振(LCR);掃描熱顯微鏡(SThM)

導電原子力模式(CAFM);其他模式可增加


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