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WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
產(chǎn)品特點
突破衍射極限的空間光學分辨率（橫向約?60 nm)
獨家專利的?SNOM?探針技術，懸臂梁近場孔式針尖（硅材料鍍鋁膜）傳感器可實現(xiàn)50-100nm的圖像解析度
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學顯微鏡模式
非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備
可升級到關聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM?和?SNOM
近場光激發(fā)耦合效率高于光纖針尖2-3個數(shù)量級，很大程度改善了近場光學顯微鏡信號過弱的問題
技術參數(shù)
1）工作模式：近場顯微鏡，共聚焦顯微鏡，原子力顯微鏡三種工作模式，切換非常簡單，只需通過旋轉轉塔即可
? ? ??2）近場光學顯微鏡分辨率：為50nm
? ? ? 3) 共聚焦拉曼顯微鏡分辨率：200nm
? ? ??4) 掃描臺掃描范圍：100 x 100 x 20 μm
? ? ? 5）探測器：光電倍增管（PMT）或雪崩二極管（APD）
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