產(chǎn)品中心
全自動的超痕量六價鉻分析儀
儀器簡介
超痕量六價鉻分析儀采用柱后衍生色譜法，即：樣品中的六價鉻經(jīng)過離子色譜分離后與衍生試劑（二苯卡巴肼）混合，利用六價鉻具有強氧化性，在酸性環(huán)境下氧化二苯卡巴肼并且絡合成紫紅色的絡合物，在540nm處測定它的光吸收。超痕量六價鉻分析儀在業(yè)界中首先采用雙離子色譜泵系統(tǒng)，即柱后衍生泵也是高性能的離子色譜泵，從而降低了輸液脈沖、降低檢出限；專用的PDA檢測器，大幅度提高靈敏度和抗干擾能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 產(chǎn)地：中國
- 型號：CR6
手持拉曼光譜儀PTRam785
儀器簡介
手持拉曼光譜儀PTRam785應用于公安安全、毒品快檢、食品安全、珠寶鑒定、原料藥檢測、生物醫(yī)療、地質(zhì)地礦等多個領(lǐng)域；集自動校準、檢測、圖譜處理、數(shù)據(jù)庫檢索和識別于一體，操作簡便快速，易于攜帶；能夠準確的對物質(zhì)成分進行快速檢測分析。
產(chǎn)品屬性
- 型號：PTRam785
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic
儀器簡介
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic是整體化設計的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點，同時克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic具備對微小區(qū)域?qū)崟r成像及拉曼光譜采集的能力。一體化的設計為顯微拉曼系統(tǒng)提供了優(yōu)秀的靈敏度及穩(wěn)定性。是一款可以滿足分析及科研所用的高性能、操作簡易、便攜式的高性價比顯微拉曼光譜儀。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 型號：CVRam Olympic
- 產(chǎn)地：中國廣東
- 價格：面議
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Edu
儀器簡介
CVRam是整體化設計的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點，同時克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。CVRam具備對微小區(qū)域?qū)崟r成像及拉曼光譜采集的能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學
- 型號：CVRam Edu
- 產(chǎn)地：中國廣東
- 價格：面議
光學薄膜厚儀Delta系列
儀器簡介
Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)地：中國
- 品牌：貝拓科學
- 波長范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
儀器簡介
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 產(chǎn)地：廣東
- 波長范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學膜厚儀
儀器簡介
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：Betop
- 型號：TF200
- 產(chǎn)地：中國
- 價格：面議