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庫爾特LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
Particle-Characterization-LS-13-320-XR-Full-View-2018-01.png
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發現細微差異
擴展測量范圍：10 nm – 3,500 μm
可在單個樣品中提供針對多種粒度的準確、可靠的檢測
軟件易于使用
ADAPT 軟件可自動進行合格/不合格檢查
只需 3 步或更少，預配置方法即可呈現結果
簡化專家及新手的分析儀操作流程
一步覆蓋歷史數據
直觀的用戶診斷可在取樣過程中時刻對您進行提醒
簡化標準測量的方法創建流程
PIDS 技術可直接檢測大小為 10 nm 的顆粒
用3 種波長的光（450、600 及 900 nm）通過垂直和水平偏振光照射樣品
分析儀從多角度測量來自樣品的散射光
每種波長的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數據
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