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本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡

產品特點

主要特點:

(1) 標準配置:
??? 原子力顯微鏡(AFM):包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
??? 橫向力顯微鏡(LFM):具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
??? 掃描隧道顯微鏡(STM):包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
??? 曲線測量分析功能:力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等


(2)選配功能:
??? 納米加工:包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等;
??? 磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡;
??? 環境控制掃描探針顯微鏡;
??? 液相掃描探針顯微鏡;
??? 導電原子力顯微鏡;
??? 掃描探針聲學顯微鏡;
??? 掃描開爾文探針顯微鏡;
??? 掃描電容顯微鏡;
??? 壓電力顯微鏡

技術參數

技術參數:

(1)國際主流的研究級專業儀器,集成原子力顯微鏡(AFM),橫向力顯微鏡(LFM),掃描隧道顯微鏡(STM)
(2)分辨率:
??? 原子力顯微鏡:橫向0.2nm,垂直0.1nm(以云母晶體標定)
??? 掃描隧道顯微鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標定)
(3)高精度計量型儀器,采用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標準樣品進行校準
(4)一鍵式快速全程全自動進樣,無需手動預調,行程大于30mm,可容納超大樣品
(5)兩級可讀數樣品調節機構,可對樣品進行精確的檢測區域定位
(6)一次掃描技術,圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際信息
(7)先進PID反饋算法實現快速高精度作用力控制,確保系統在高速掃描中穩定成像,實際掃描速度提升一個數量級
(8)系統采用10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計算機連接
(9)主控機箱前面板具有16×4液晶顯示屏,系統當前狀態實時顯示
(10)具備實時在線三維圖像顯示功能,便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息


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